241
Explainable Process Deviance Discovery with Data-Efficient Deep Learning
Folino, Francesco; Folino, Gianluigi; Guarascio, Massimo; Pontieri, Luigi
 04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno 2023
242
Exploiting Deep Learning and Explanation Methods for Movie Tag Prediction
Coppolillo, Erica; Coppolillo, Erica; Guarascio, Massimo; Guarascio, Massimo; Minici, Marco; Minici, Marco; Pisani, FRANCESCO SERGIO; Sergio, Francesco
 04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno 2023
243
Exploiting Deep Learning and Explanation Methods for Movie Tag Prediction
Coppolillo, Erica; Guarascio, Massimo; Minici, Marco; Pisani, Francesco Sergio
 04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno 2023
244
Federated Learning Using PSO with Blockchain-based framework
Greco, E; Celia, S; Gentile, Af
 08 Report e Working Paper::08.04 Rapporto tecnico 2023
245
Fighting Misinformation, Radicalization and Bias in Social Media
Erica Coppolillo; Carmela Comito; Marco Minici; Ettore Ritacco; Gianluigi Folino; Francesco Sergio Pisani; Massimo Guarascio; Giuseppe Manco
 04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno 2023
246
Fighting Misinformation, Radicalization and Bias in Social Media
Coppolillo, Erica; Comito, Carmela; Minici, Marco; Ritacco, Ettore; Folino, Gianluigi; Pisani, FRANCESCO SERGIO; Guarascio, Massimo; Manco, Giuseppe
 04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno 2023
247
Finite Quotients of Surface Braid Groups and Double Kodaira Fibrations
Polizzi, Francesco; Sabatino, Pietro
 02 Contributo in Volume::02.01 Contributo in volume (Capitolo o Saggio) 2023
248
From Pavlov Conditioning to Hebb Learning
Agliari, Elena; Aquaro, Miriam; Barra, Adriano; Fachechi, Alberto; Marullo, Chiara
NEURAL COMPUTATION
 01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista 2023
249
GaN and SiC Device Characterization by a Dedicated Embedded Measurement System
Vella A.; Galioto G.; Vitale G.; Lullo G.; Giaconia G.C.
ELECTRONICS
 01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista 2023
250
GaN and SiC Device Characterization by a Dedicated Embedded Measurement System
Vella, A; Galioto, G; Vitale, G; Lullo, G; Giaconia, Gc
ELECTRONICS
 01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista 2023